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PE ICPMS-1000G

PE ICPMS-1000G

珀金埃尔默 NexION 1000G 是一款单四极杆电感耦合等离子体质谱仪,专为应对现代实验室面临的高挑战而设计。它将分析速度、良好的基质耐受性与良好的灵敏度于一体。NexION 1000G 不仅重新定义了ICP-MS的性能标杆,更通过其独特的三重四极杆操作模式(通过单一四极杆实现) 和智能软件,实现了从常规检测到复杂基体分析的解决方案,广泛应用于环境、半导体、临床研究、制药及材料科学等领域。

产品详情

珀金埃尔默 NexION 1000G 是一款单四极杆电感耦合等离子体质谱仪,专为应对现代实验室面临的高挑战而设计。它将分析速度、良好的基质耐受性与良好的灵敏度于一体。NexION 1000G 不仅重新定义了ICP-MS的性能标杆,更通过其独特的三重四极杆操作模式(通过单一四极杆实现) 和智能软件,实现了从常规检测到复杂基体分析的解决方案,广泛应用于环境、半导体、临床研究、制药及材料科学等领域。


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产品核心特点

 

1.  创新的三重四极杆技术(使用单一四极杆实现 - 3Q-MS™):

       设计: NexION 1000G 通过独特的三锥接口、通用池技术和四极杆质量分析器的创新组合,仅用单一四极杆即可模拟实现传统三重四极杆ICP-MS/MS的绝大部分功能。它拥有四个四极杆(Q0, Q1, Q2, Q3),其中Q2为通用池。

       强大的干扰消除能力: 可运行标准、碰撞、反应和质量转移四种模式。特别是“质量转移”模式,通过在反应池中使目标元素发生质量数转移,从而彻底避开所有同量异位素干扰和多原子离子干扰,提供类“MS/MS”的超高选择性。

 

2.  超强的基质耐受性与高通量分析:

       三锥接口与冷等离子体技术: 高盐基体耐受性极强(可稳定处理高达25%总溶解固体的样品),并能有效抑制由Ar⁺、ArO⁺等引起的背景干扰,特别适合高纯材料和半导体行业分析。

       高达100,000 µg/L的耐盐性: 可直接分析海水、高浓度地质样品等。

       极快的扫描与分析速度: 快速的四极杆与检测器结合,可在一次分析中同时测定从超痕量到常量的数十种元素,极大提升实验室通量。

 

3.  革命性的Guard Electrode™ 守护电极与Plasma 3™ 三维等离子体视图:

       Guard Electrode™: 将等离子体电位与接口隔离,显著提升信号的稳定性、精密度和长期耐用性,尤其是在分析复杂基体时。

       Plasma 3™: 提供等离子体的实时三维可视化监控,允许用户直观优化等离子体位置、形状和能量,确保仪器始终处于较好状态,降低对操作者经验的依赖。

 

4.  超高灵敏度与极低的背景等效浓度:

       超高灵敏度: 对关键元素的检测能力达到亚ppt(ng/L)甚至ppq(pg/L)级别,满足严苛的超痕量分析需求。

       极低的背景(BEC): 得益于高效的干扰消除和优异的背景抑制能力,能够获得极低的背景等效浓度,确保在复杂基体中痕量元素检测的准确性。

 

5.  智能化的Syngistix™ for ICP-MS软件:

       人工智能辅助方法开发: 软件内置智能算法,可根据样品类型和待测元素推荐良好的分析模式(标准/碰撞/反应/质量转移)、池气体和参数。

       符合法规要求: 完全符合FDA 21 CFR Part 11等法规,具备完整的电子签名、审计追踪和数据安全性管理。

       直观的工作流程: 从自动调谐、样品序列设置、实时监控到数据报告生成,提供无缝、高效的用户体验。

 

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主要技术参数

 

 项目  参数规格

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 质量分析器  4极杆设计(Q0, Q1, Q2-通用池, Q3),可实现3Q-MS™模式

 质量范围  2 – 290 amu(可扩展至>500 amu)

 分辨率  0.3 – 3.0 amu(可调)

 动态线性范围  ≥ 12个数量级(从亚ppt到百分含量,一次分析完成)

 灵敏度  > 80,000 cps/ppb for In (常规模式) ; > 100,000 cps/ppb for In (冷等离子体模式)

 背景等效浓度  < 0.1 ppt for ⁹Be, ²⁴Mg, ⁵⁹Co, ¹¹⁵In, ²³⁸U (常规模式)

 氧化物离子产率  CeO⁺/Ce⁺ < 0.4% (常规模式),< 2.0% (反应模式)

 双电荷离子产率  Ba²⁺/Ba⁺ < 1%

 短期稳定性 (RSD)  < 1% (20分钟, 1 ppb多元素溶液)

 长期稳定性 (RSD)  < 2% (4小时, 1 ppb多元素溶液)

 样品引入系统  全自动、可伸缩的炬管定位系统,耐氢氟酸进样系统(可选)

 接口  三锥接口设计,带Guard Electrode™ 守护电极

 检测器  脉冲/模拟双模式离散打拿极电子倍增器

 等离子体观察  垂直(标准)与Plasma 3™ 三维观察


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主要应用领域

 

1.  半导体与高纯材料:

       超高纯试剂(酸、溶剂)、高纯金属、硅片、光刻胶中痕量杂质的检测(ppt至ppq级)。

       晶圆表面污染分析(与LA或溶液进样联用)。

       是满足半导体行业制程(如逻辑芯片、存储器)严苛纯度要求的理想工具。

 

2.  环境监测:

       地表水、地下水、海水、饮用水及废水中全元素(包括稀土、重金属)超痕量分析。

       土壤、沉积物、固体废物中元素形态与总量分析(常与LC联用进行As, Hg, Cr等形态分析)。

       空气颗粒物(PM2.5)中金属成分精准溯源。

 

3.  临床研究与生物分析:

       全血、血清、尿液、组织中微量与痕量元素(如Se, Zn, Cu, Cd, Pb)的精准测定。

       蛋白质/金属组学研究,用于疾病生物标志物发现。

       药物中催化剂残留(Pt, Pd, Ru等)的定量分析。

 

4.  食品与药品安全:

       食品、保健品、中药材中重金属(Pb, Cd, As, Hg)及有益/有害元素的全面筛查与合规检测。

       药品及原料药中元素杂质检测,符合ICH Q3D、USP <232>、<233>等国际药典标准。

 

5.  地质与核工业:

       地质样品中稀土、稀有、稀散元素的高精度分析,用于矿产勘探与研究。

       核燃料循环材料、环境样本中同位素比值测定与超铀元素分析。


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